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自閉癥發病原因新發現:基因缺陷所致

2016/10/10 9:50:30 來源:互聯網 作者:wangsf 字體: 發表評論 打印此文
    自閉癥是一種高發性精神疾病,發病率為2%。關于其發病原因,一般認為是胎兒期神經發育障礙,但具體機理一直是個迷。
 
    近年來,人們針對自閉癥患者進行了大量的基因變異研究,發現變異比例最高的是CHD8,這一基因控制染色體結構的變化。日本九州大學的生物防御醫學研究所的研究人員在CHD8的研究方面一直處于世界領先水平。在最近的實驗中,他們發現,當小鼠的基因產生同樣的變異后,也會出現溝通異常、脾氣頑固等人類自閉癥的表征。
 
    日本發現自閉癥發病機理:基因缺陷所致
 
    研究表明,由于基因變異,該基因制造的蛋白質數量減少,被稱作“REST”的其它蛋白質異?;钴S,導致神經發育遲緩。自閉癥患者,源于父方的CHD8基因或者源于母方的CHD8基因,某一方基因欠損的稱之“半欠損”現象不少。研究團隊人工制造了將此基因變成“半欠損”的小鼠,觀察小鼠的行為,發現小鼠有不安增多、交流異常等和人的自閉癥類似的癥狀。分析該小鼠大腦,結果證實REST的活性度異常上升。
 
    經采用TransOmics系統對自閉癥老鼠進行進一步研究發現,由于遺傳變異,CHD8量的減少會導致一種影響神經發育的蛋白質REST被高度激活,最終導致神經發育遲緩。也就是說,如果通過人為因素投藥增加CHD8的量,或者采取措施抑制REST的活性,也許可以找到治療自閉癥的方法。
 
    該研究成果發表在2016年9月英國科學期刊《Nature》的電子版上。
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